便攜式光學(xué)膜厚儀是利用反射干涉的原理進(jìn)行無(wú)損測量，可測量薄膜厚度及光學(xué)常數。測量精度達到埃級的分辯率，測量迅速，操作簡(jiǎn)單，界面友好，是具性?xún)r(jià)比的膜厚測量?jì)x設備。設備光譜測量范圍從近紅外到紫外線(xiàn)，凡是光滑的，透明或半透明的和所有半導體膜層都可以測量。

 

　　本儀器是使用白光干涉的原理，從而對樣品表面的膜層進(jìn)行測量，基本上所有光滑的、半透明的或者地吸收洗漱的薄膜都可以進(jìn)行測量。

 

　　主要應用：

　　光學(xué)鍍層行業(yè)如：硬涂層，抗反射層等涂層厚度測量；

　　生物醫學(xué)行業(yè)如：聚對二甲苯，YL器械等領(lǐng)域可透光涂層膜厚的測量；

　　半導體行業(yè)如：光刻膠的厚度測量；加工膜層的厚度測量，介電層的厚度測量等；

　　液晶顯示器行業(yè)如：OLED領(lǐng)域各種透明薄膜的厚度測量，玻璃上面涂層的厚度測量等。

　　便攜式光學(xué)膜厚儀的應用領(lǐng)域極其廣闊，適用于多種行業(yè)以及大學(xué)實(shí)驗室等，提供低至納米級別的薄膜厚度測量可能。

 

　　便攜式光學(xué)膜厚儀的功能：

　　1、操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；

　　2、兩種關(guān)機方式：手動(dòng)關(guān)機方式和自動(dòng)關(guān)機方式；

　　3、電池電壓指示：低電壓提示；

　　4、微功耗設計，在待機裝態(tài)不到10微安的電流；

　　5、采用了磁性測厚方法，可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度；

　　6、可采用單點(diǎn)校準和兩點(diǎn)校準兩種方法對儀器進(jìn)行校準；

　　7、可采用基本校準修正法對測頭系統誤差進(jìn)行更新修正，保證儀器在測量過(guò)程中的準確性；

　　8、負數顯示功能，保證儀器零位點(diǎn)校準的準確性，提高測試精度。