當前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 晶圓厚度測量 >
產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category
FSM413紅外激光測厚儀主要產(chǎn)品包括:光學(xué)測量設備:三維輪廓儀、拉曼光譜、 薄膜應力測量設備、 紅外干涉厚度測量設備、電學(xué)測量設備:高溫四探針測量設備、非接觸式片電阻及漏電流測量設備、金屬污染分析、等效氧化層厚度分析（EOT）
更新時(shí)間：2024-11-09
型號：
廠(chǎng)商性質(zhì)：代理商
瀏覽量：4957
FR-Ultra 是一款專(zhuān)用于精確測量半導體以及介電材料超厚層的專(zhuān)用設備。 藉由先進(jìn)的光學(xué)器件，FR-Ultra 可以測量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。
更新時(shí)間：2024-11-09型號：廠(chǎng)商性質(zhì)：代理商瀏覽量：1154